X射線定義：

　　l X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1-100KeV的光子.X射線與物質的相互作用主要有熒光.吸收.散射三種。X射線的熒光物質中的組成元素產(chǎn)生特征輻射,通過測量和分析樣品產(chǎn)生的X射線熒光,即可獲得樣品中的元素組成,得到物質成分的定性和定量信息.

　　l X射線光譜儀通常可分為兩大類:波長色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜儀.

　　l X射線熒光分析技術的缺點是檢出限不夠低,不適于分析輕元素,依賴標樣,分析液體樣品手續(xù)比較麻煩.由于電感耦合等離子質譜儀(ICP-MS)具有的痕量.超痕量分析能力.因此目前國內外分析實驗室一種流行的趨勢是同時配備X射線熒光光譜儀和電感耦合等離子質譜儀(ICP-MS).利用XRF分析含量較高的元素,而用ICP-MS分析低濃度的元素.

　　X熒光的基礎知識

　　由于K層電子與L/M層電子能量不同，補位電子會釋放出多余能量，該能量的表現(xiàn)形式為X熒光（躍遷）。此熒光可被探測器接受測量并可反映出元素的具體信息。經(jīng)過分析后zui終獲得元素種類及組成比例的信息。

　　當X光束照射到測試樣品上，受照射區(qū)域物質的組成元素的內層電子，會應受到X光轟擊溢出，為保持其內部平衡，該原子L層或M層的外層電子會補充這個電子空位。

　　特征X射線的產(chǎn)生機理

　　l 同樣當K空位被M層電子填充時，則產(chǎn)生Kβ輻射。M能級與K能級之差大于L能級與K能級之差，即一個Kβ光子的能量大于一個Kα光子的能量； 但因L→K層躍遷的幾率比M→K遷附幾率大，故Kα輻射強度比Kβ輻射強度大五倍左右。

　　l 顯然， 當L層電子填充K層后，原子由K激發(fā)狀態(tài)變成L激發(fā)狀態(tài)，此時更外層如M、N……層的電子將填充L層空位，產(chǎn)生L系輻射。因此，當原子受到K激發(fā)時，除產(chǎn)生K系輻射外，還將伴生L、M……等系的輻射。除K系輻射因波長短而不被窗口*吸收外，其余各系均因波長長而被吸收。

　　l Kα雙線的產(chǎn)生與原子能級的精細結構相關。L層的8個電子的能量并不相同，而分別位于三個亞層上。Kα雙線系電子分別由LⅢ和LⅡ兩個亞層躍遷到K層時產(chǎn)生的輻射，而由LI亞層到K層因不符合選擇定則（此時Δl＝0），因此沒有輻射。

　　X射線熒光

　　光譜學上的“熒光”：泛指物質受到外來的原級輻射照射時，物質發(fā)出的次級輻射，波長（能量）在X射線范圍的熒光叫X射線熒光。不僅X射線可以產(chǎn)生熒光，可見光、紫外線也可以產(chǎn)生熒光。

  　　ROHS檢測儀的價格差異主要取決于以下幾個因素：

　　1. 品牌和制造商：知名品牌和專業(yè)制造商生產(chǎn)的ROHS檢測儀通常價格較高，但具有更可靠的性能、技術支持和售后服務。

　　2. 功能與特性：不同型號的ROHS檢測儀可能具有不同的功能和特性，如測試范圍、精度、分辨率等。更高級別或多功能的設備往往價格更高。

　　3. 技術水平：先進的技術會使設備成本增加，例如更精密且穩(wěn)定的探測器、更快速和準確的分析算法等。

　　4. 采樣方式：ROHS檢測儀可以通過不同方式進行采樣，如無損傷采樣或破壞性采樣。破壞性采樣需要額外耗材并且可能導致成本上升。

　　5. 數(shù)據(jù)處理軟件：一些ROHS檢測儀配備了強大且易于使用的數(shù)據(jù)處理軟件，并提供數(shù)據(jù)管理及報告生成功能。這些附加功能會影響設備價格。

　　6. 國家/地區(qū)規(guī)格要求：某些國家或地區(qū)對ROHS認證有特殊要求，為了符合這些要求，相應的ROHS檢測儀可能需要進行定制或適應調整，從而影響價格。

　　需要注意的是，較低價格并不一定意味著質量差。在購買ROHS檢測儀時，建議根據(jù)實際需求和預算綜合考慮以上因素，并選擇具有良好性能和可靠品牌支持的設備。